說明:液體溫度沖擊試驗(yàn)箱用于確定電子產(chǎn)品、組件、材料等在超高溫和超低溫油槽內(nèi)溫度循環(huán)變化對(duì)產(chǎn)品的影響及產(chǎn)品性能變化。
1、 GB/T10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2、GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3、GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
5、GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
6、GJB 150.3A-2009高溫試驗(yàn)
7、GJB 150.4A-2009低溫試驗(yàn)
8、GJB150.5A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法
9、GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法
溫度試驗(yàn)設(shè)備
10GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
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